Übersetzung für "Coincidence detector" in Deutsch

Immediately after this coincidence, the phase detector Pd is enabled by A=zero.
Sogleich nach dieser Koinzidenz ergibt sich eine Aktivierung des Phasendetektors Pd durch A = Null.
EuroPat v2

This has hitherto been brought about in that the scattered light was determined by two detector systems by means of coincidence measurements, the detector systems having diaphragm apertures of different size.
Dies wurde bisher dadurch getan, daß das gestreute Licht durch zwei Detektoranordnungen mittels Koinzidenzmessungen erfaßt wurde, wobei die Detektoranordnungen Blendenöffnungen unterschiedlicher Größe aufwiesen.
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Assignment of an X-ray quantum is realized in that the first detector device is constructed so that it measures essentially the energy loss of the X-ray quanta incurred therein due to Compton scattering, there also being provided a second position-sensitive detector device, and a coincidence device which determines the coincidence of the signals of the two detector devices, the reconstruction means being constructed so that, in the case of coincidence of the detector output signals, the path of the X-ray quantum causing these signals is determined and therefrom, and from the energy loss measured in the first detector device, the position of the scatter point on the primary beam is determined.
Dabei wird eine Zuordnung eines Röntgenquants dadurch erreicht, daß die erste Detektoranordnung so ausgebildet ist, daß sie im wesentlichen den in ihr durch Compton­streuung bewirkten Energieverlust der Röntgenquanten mißt, daß eine zweite ortsauflösende Detektoranordnung vorge­sehen ist, daß eine Koinzidenzeinrichtung die Koinzidenz der Signale der beiden Detektoranordnungen feststellt, und daß die Rekonstruktionsmittel so ausgebildet sind, daß bei einer Koinzidenz der Detektorausgangssignale der Weg des diese Signale hervorrufenden Röntgenquants und daraus sowie aus dem in der ersten Detektoranordnug gemessenen Energieverlust die Lage des Streupunktes auf dem Primär­strahl ermittelt wird.
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This object is achieved in accordance with the invention in that the first detector device is constructed so that it measures essentially the energy loss of the X-ray quanta which occurs therein due to Compton scattering, there being provided a positive-sensitive detector device and a coincidence device which determines the coincidence of the signals of the two detector devices, the reconstruction means being constructed so that, in the case of coincidence of the detector output signals, the path of the X-ray quantum causing these signals is determined and therefrom, and from the energy loss measured in the first detector device, the position of the scatter point on the primary beam is determined.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die erste Detektoranordnung so ausgebildet ist, daß sie im wesentlichen den in ihr durch Comptonstreuung bewirkten Energieverlust der Röntgenquanten mißt, daß eine zweite ortsauflösende Detektoranordnung vorgesehen ist, daß eine Koinzidenzeinrichtung die Koinzidenz der Signale der beiden Detektoranordnungen feststellt, und daß die Rekon­struktionsmittel so ausgebildet sind, daß bei einer Koinzidenz der Detektorausgangssignale der Weg des diese Signale hervorrufenden Röntgenquants und daraus sowie aus dem in der ersten Detektoranordnung gemessenen Energie­verlust die Lage des Streupunktes auf dem Primärstrahl ermittelt wird.
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If one observes the stripe-pattern phase, which in the case of a linear measuring strip increases linearly by 2*Pi within one detector period—thus coincides with the detector phase and therefore supplies an optimal contrast in the detector signals—then the phase for a curved measuring strip initially is somewhat ahead of the phase of the detector in the middle of the detector (since the effective Vernier period P eff is smaller here than the detector period), while it lags behind toward the edge of the detector (since here the effective Vernier period P eff is larger than the detector period).
Betrachtet man die Phase des Streifenmusters, die im Falle eines linearen Maßbandes linear um 2*Pi innerhalb einer Detektorperiode zunimmt, sich also mit der Detektorphase deckt und damit einen optimalen Kontrast in den Detektorsignalen liefert, so eilt die Phase für ein gekrümmtes Maßband in der Mitte des Detektors zunächst etwas der Phase des Detektors voraus (da die effektive Vernier-Periode P eff hier kleiner ist als die Detektorperiode), während sie zum Rand des Detektors hin nacheilt (da die effektive Vernier-Periode P eff hier größer ist als die Detektorperiode).
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