Translation of "Diffraction limit" in German
The
highest
irradiance
levels
can
be
achieved
with
a
single-mode
beam
(diffraction
limit).
Die
höchsten
Leistungsdichten
lassen
sich
bei
einmodiger
Strahlung
erreichen
(Beugungslimit).
EuroPat v2
Different
approaches
have
recently
been
developed
for
resolutions
beyond
the
diffraction
limit.
Für
Auflösungen
jenseits
der
Beugungsgrenze
wurden
in
der
letzen
Zeit
verschiedene
Ansätze
entwickelt.
EuroPat v2
This
lies
near
to
the
diffraction
limit
of
light
in
the
visible
or
near
infrared
range.
Dies
liegt
nahe
am
Beugungslimit
von
Licht
im
sichtbaren
bzw.
nahen
Infrarotbereich.
EuroPat v2
This
is
close
to
the
diffraction
limit
of
light
in
the
visible
and
near
infrared
range.
Dies
liegt
nahe
am
Beugungslimit
von
Licht
im
sichtbaren
bzw.
nahen
Infrarotbereich.
EuroPat v2
The
resolution
is
also
very
high,
close
to
the
diffraction
limit.
Die
Auflösung
ist
ebenfalls
sehr
hoch
und
liegt
nahe
der
Beugungsgrenze.
ParaCrawl v7.1
This
is
below
the
diffraction
limit
of
conventional
microscopes
(250
nanometers).
Dieses
ist
unterhalb
der
Beugungsgrenze
auf
herkömmliche
Mikroskope
(250
nm).
ParaCrawl v7.1
STED
microscopy
creates
high-resolution
images
far
below
the
diffraction
limit
of
visible
light.
Die
STED-Mikroskopie
erzeugt
hochauflösende
Bilder
weit
unterhalb
der
Beugungsgrenze
des
sichtbaren
Lichts.
ParaCrawl v7.1
Airy
rings
can
be
seen,
which
indicates
that
the
diffraction
limit
of
the
Calar
Alto
Observatory's
2.2
m
telescope
was
reached.
Airy-Ringe
sind
erkennbar
und
zeigen
an,
dass
die
Beugungsgrenze
des
Calar-Alto-Observatorium-2,2-m
Teleskopes
erreicht
wurde.
WikiMatrix v1
Divergence,
M
squared
(M2),
diffraction
limit,
wave
front
distortion
–
we
know
how
to
calculate
a
beam
path.
Divergenz,
M2,
Beugungsbegrenzung,
Wellenfrontdeformation
–
wir
wissen,
wie
man
einen
Strahlengang
berechnet.
ParaCrawl v7.1
In
the
state
of
the
art,
various
methods
have
been
developed
to
break
the
diffraction
limit
in
luminescence
microscopy.
Im
Stand
der
Technik
sind
verschiedene
Verfahren
zur
Überwindung
der
Beugungsgrenze
in
der
Lumineszenzmikroskopie
entwickelt
worden.
EuroPat v2
In
addition
to
a
high
spectral
resolution
it
was
possible
to
carry
out
a
detailed
analytical
point
resolved
characterization
up
to
the
diffraction
limit.
Neben
einer
hohen
spektralen
Auflösung
ließ
sich
bis
zur
Beugungsbegrenzung
eine
detaillierte
ortsaufgelöste
analytische
Charakterisierung
durchführen.
EuroPat v2
The
Department
of
Optical
Nanoscopy
is
focused
on
conceiving,
exploring,
validating
and
applying
optical
microscopy
methods
with
resolution
far
beyond
the
classical
diffraction
limit.
Die
Abteilung
Optische
Nanoskopie
konzentriert
sich
auf
die
Entwicklung,
Validierung
und
Umsetzung
von
Methoden
optischer
Mikroskopie,
die
die
klassische
Beugungsgrenze
weit
unterschreiten.
WikiMatrix v1
Only
recently,
techniques
were
developed
that
allow
high-resolution
microscopy
to
be
performed,
providing
a
resolution
that
is
less,
or
even
much
less,
than
the
diffraction
limit.
Erst
in
jüngerer
Vergangenheit
wurden
Methoden
entwickelt,
die
eine
hochauflösende
Mikroskopie
mit
einer
Auflösung
erlauben,
die
deutlich
kleiner
als
die
Beugungsgrenze
ist.
EuroPat v2
In
this
case,
the
corresponding
pixel
sizes
(around
50~nm
)
are
far
below
the
diffraction
limit
of
light,
and
thus
the
image
sensor
is
oversampling
the
optical
resolution
of
the
light
field.
In
diesem
Fall
sind
die
resultierenden
Bildpunktgrößen
(um
50~nm)
weit
unter
der
Beugungsgrenze
von
Licht
und
der
Bildsensor
erreicht
eine
Überabtastung
der
optischen
Auflösung
des
Lichtfeldes.
WikiMatrix v1
Max
Planck
Innovation,
the
technology
transfer
organization
of
the
Max
Planck
Society,
grants
Leica
Microsystems,
Wetzlar,
an
exclusive
license
for
implementing
the
latest
generation
of
optical
microscopes
with
a
resolution
far
below
the
diffraction
limit
(nanoscopes).
Leica
Microsystems,
Wetzlar,
erhält
von
Max-Planck-Innovation,
der
Technologietransfer-Organisation
der
Max-Planck-Gesellschaft,
die
Exklusivlizenz
für
die
Umsetzung
der
neuesten
Generation
optischer
Mikroskope
mit
Auflösung
weit
unterhalb
der
Beugungsgrenze
(Nanoskope).
ParaCrawl v7.1
When
the
licence
agreement
for
GSDIM
was
concluded,
Stefan
Hell
stated:
“Leica
Microsystems
was
by
far
the
first
company
to
take
the
historical
breakthrough
of
the
diffraction
limit
light
microscopy
and
implement
this
in
products.
Stefan
Hell
erklärte
anlässlich
der
Lizenzierung
von
GSDIM:
„Leica
Microsystems
war
mit
Abstand
das
erste
Unternehmen,
das
den
für
die
Lichtmikroskopie
historischen
Durchbruch
der
Beugungsgrenze
in
Produkte
umgesetzt
hat.
ParaCrawl v7.1
Stimulated
emission
depletion
(STED)
microscopy
is
a
super-resolution
(SR)
fluorescence
microscopy
technique
which
can
overcome
the
diffraction
limit.
Mikroskopie
der
Entleerung
der
angeregten
Emission
(STED)
ist
eine
Superauflösung
(SR)
Fluoreszenzmikroskopietechnik,
die
die
Beugungsgrenze
ausgleichen
kann.
ParaCrawl v7.1
True-to-detail
imaging
of
the
spatial
arrangement
of
proteins
and
other
biomolecules
in
cells
and
observing
molecular
processes
-
GSDIM
makes
this
possible
for
researchers
due
to
resolutions
beyond
the
diffraction
limit.
Räumliche
Anordnungen
von
Proteinen
und
anderer
Biomoleküle
in
Zellen
detailgetreu
abzubilden
und
molekulare
Vorgänge
zu
beobachten
-
dies
wird
Forschern
durch
GSDIM
aufgrund
von
Auflösungen
jenseits
der
Beugungsgrenze
ermöglicht.
ParaCrawl v7.1
In
the
recent
past,
light
microscopic
imaging
methods
have
been
developed
with
which,
based
on
a
sequential,
stochastic
localization
of
individual
markers,
in
particular
fluorescence
molecules,
sample
structures
can
be
imaged
that
are
smaller
than
the
diffraction-dependent
resolution
limit
of
conventional
light
microscopes.
In
jüngerer
Vergangenheit
wurden
lichtmikroskopische
Abbildungsverfahren
entwickelt,
mit
denen
sich
basierend
auf
einer
sequentiellen,
stochastischen
Lokalisierung
von
einzelnen
Markern,
insbesondere
Fluoreszenzmolekülen,
Probenstrukturen
darstellen
lassen,
die
kleiner
sind
als
die
beugungsbedingte
Auflösungsgrenze
klassischer
Lichtmikroskope.
EuroPat v2
In
fluorescence
microscopy,
such
a
depletion
beam
may
be
used,
for
example
according
to
the
so-called
STED
method,
to
increase
the
spatial
resolution
of
the
light-microscopic
image
beyond
the
diffraction
limit.
Auf
dem
Gebiet
der
Fluoreszenzmikroskopie
kann
ein
solcher
Abregungslichtstrahl
beispielsweise
nach
dem
sogenannten
STED-Verfahren
dazu
genutzt
werden,
die
räumliche
Auflösung
der
lichtmikroskopischen
Abbildung
über
die
Beugungsgrenze
hinaus
zu
steigern.
EuroPat v2
In
the
recent
past,
light-microscopic
imaging
methods
have
been
developed
with
which,
based
on
a
sequential,
stochastic
localization
of
individual
markers,
in
particular
fluorescence
molecules,
samples
can
be
imaged
that
are
smaller
than
the
diffraction
resolution
limit
of
conventional
light
microscopes.
In
jüngerer
Vergangenheit
wurden
lichtmikroskopische
Abbildungsverfahren
entwickelt,
mit
denen
sich
basierend
auf
einer
sequentiellen,
stochastischen
Lokalisierung
von
einzelnen
Markern,
insbesondere
Fluoreszenzmolekülen,
Proben
darstellen
lassen,
die
kleiner
sind
als
die
beugungsbedingte
Auflösungsgrenze
klassischer
Lichtmikroskope.
EuroPat v2
The
invention
further
relates
to
a
method
for
high
resolution
scanning
microscopy
of
a
sample,
wherein
the
sample
is
illuminated,
wherein
a
point
or
linear
spot
guided
over
the
sample
in
a
scanning
manner
is
imaged
into
a
single
image,
wherein
the
spot
is
imaged
into
the
single
image,
with
a
reproduction
scale,
and
diffraction-limited,
and
the
single
image
is
static
in
a
detection
plane,
wherein
the
single
image
is
detected
for
various
different
scan
positions
with
a
location
accuracy
which
is
at
least
twice
as
high,
taking
into
account
the
reproduction
scale,
as
a
full
width
at
half
maximum
of
the
diffraction-limited
single
image,
such
that
a
diffraction
structure
of
the
single
image
is
detected,
wherein
for
each
scan
position,
the
diffraction
structure
of
the
single
image
is
evaluated
and
an
image
of
the
sample
is
generated
which
has
a
resolution
which
is
enhanced
beyond
the
diffraction
limit.
Die
Erfindung
bezieht
sich
weiter
auf
ein
Verfahren
zur
hochauflösenden
Scanning-Mikroskopie
einer
Probe,
bei
dem
die
Probe
beleuchtet
wird,
ein
scannend
über
die
Probe
geführter
Punkt-
oder
Linien-Spot
in
ein
Einzelbild
abgebildet
wird,
wobei
der
Spot
unter
einem
Abbildungsmaßstab
beugungsbegrenzt
in
das
Einzelbild
abgebildet
wird
und
das
Einzelbild
ruhend
in
einer
Detektionsebene
liegt,
für
verschiedene
Scanpositionen
das
Einzelbild
mit
einer
Ortauflösung
erfaßt
wird,
welche
unter
Berücksichtigung
des
Abbildungsmaßstabes
mindestens
doppelt
so
groß
ist
wie
eine
Halbwertsbreite
des
beugungsbegrenzten
Einzelbildes,
so
daß
eine
Beugungsstruktur
des
Einzelbildes
erfaßt
wird,
für
jede
Scanposition
die
Beugungsstruktur
des
Einzelbildes
ausgewertet
wird
und
ein
Bild
der
Probe
erzeugt
wird,
das
eine
Auflösung
aufweist,
die
über
die
Beugungsgrenze
gesteigert
ist.
EuroPat v2
Focusing
optic
67
is
controlled
by
computing
unit
57
such
that
light
beam
70
is
focused
on
surface
52,
in
an
ideal
case
focused
at
the
diffraction
limit.
Die
Fokussierungsoptik
67
wird
von
der
Recheneinheit
57
derart
angesteuert,
dass
der
Lichtstrahl
70
auf
der
Oberfläche
52
fokussiert,
im
Idealfall
beugungsbegrenzt
fokussiert
wird.
EuroPat v2
In
particular,
the
image
circle
radius
in
the
image
plane—that
is
the
light
spot
of
the
receiving
beam
from
a
target
object
in
the
image
plane
caused
by
the
aforementioned
optical
aberrations—as
a
lower
limit
should
only
be
determined
by
the
diffraction
limit
and
only
be
a
fraction
of
a
micrometer.
Insbesondere
soll
der
Bildkreisradius
in
der
Bildebene
-
das
ist
der
durch
die
vorgenannten
Abbildungsfehler
bedingte
Lichtfleck
des
Empfangsstrahlenbündels
von
einem
Zielobjekt
in
der
Bildebene
-
als
unterer
Grenzwert
einzig
durch
das
Beugungslimit
bestimmt
sein
und
nur
Bruchteile
eines
Mikrometers
betragen.
EuroPat v2
If
this
area
is
the
null
of
an
interference
pattern
of
the
deexcitation
light
and
the
intensity
of
the
deexcitation
light
is
high,
it
is
possible
to
reduce
the
spatial
dimensions
of
this
area
from
which
the
spontaneously
emitted
fluorescence
light
can
exclusively
originate
below
the
diffraction
limit
for
the
wavelength
of
the
light
being
used.
Wenn
dieser
Bereich
die
Nullstelle
eines
Interferenzmusters
des
Abregungslichts
ist
und
die
Intensität
des
Abregungslichts
hoch
ist,
ist
es
möglich,
die
räumlichen
Abmessungen
dieses
Bereichs,
aus
dem
das
spontan
emittierte
Fluoreszenzlicht
ausschließlich
stammen
kann,
unter
die
Beugungsgrenze
bei
der
Wellenlänge
des
verwendeten
Lichts
abzusenken.
EuroPat v2