Translation of "Depth profiling" in German

The profile blade 10 and workpiece surface 21 are now fed radially to one another until the envelope surface or flight circle 25 cuts over the workpiece surface corresponding to the desired depth of the profiling to be produced.
Nun werden die Profilschneide 10 und die Werkstückfläche 21 radial gegeneinander zugestellt, bis die Hüllfläche bzw. der Flugkreis 25 entsprechend der gewünschten Tiefe der herzustellenden Profilierung die Werkstückfläche 21 überschneidet.
EuroPat v2

It has been discovered that a dependency exists between shape and depth of the profiling of the roll nip and/or the roll surfaces, as well as the roll surface temperature, and the quality of the thus-manufactured sheet.
Es wurde gefunden, dass zwischen Form und Tiefe der Profilierung des Walzenspaltes bzw. der Walzenoberflächen sowie der Walzenoberflächentemperatur und der Qualität der hergestellten Bahn eine Abhängigkeit besteht.
EuroPat v2

In particular during depth profiling or in grid scanning of a surface, this sample surface was massively changed during the bombardment in the method according to the state of the art in which firstly an analysis of the sample was examined with one of the primary ion species from a specific source.
Insbesondere bei der Tiefenprofilierung bzw. bei der gerasterten Abtastung (Scannen) einer Oberfläche wurde beim Verfahren nach dem Stand der Technik, bei dem zuerst eine Analyse der Probe mit einer der Primärionenspezies aus einer spezifischen Quelle untersucht wurde, diese Probenoberfläche während des Beschusses massiv verändert.
EuroPat v2

The shape and depth of the profiling depends on the nature of the flowing liquid, as well as the amount thereof.
Die Form und Tiefe der Profilierung ist von der Natur der strömenden Flüssigkeit, sowie deren Menge abhängig.
EuroPat v2

It is therefore the object of the present invention to make available a secondary ion mass spectroscopic method and a mass spectrometer suitable for this purpose, with which depth profiling of insulating materials, in particular on alkali metals contained therein, is possible with as low as possible or no falsification of the depth distribution with simultaneously low detection limits.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein sekundärionenmassenspektrokopisches Verfahren und ein hierfür geeignetes Massenspektrometer zur Verfügung zu stellen, mit dem eine Tiefenprofilierung von isolierenden Materialien, insbesondere auf darin enthaltene Alkalimetalle mit möglichst geringer oder ohne Verfälschung der Tiefenverteilung bei gleichzeitig niedrigen Nachweisgrenzen möglich ist.
EuroPat v2

For the removal of surface layers, large oxygen gas clusters with essentially 1,400 molecules/ion and an energy of 20 keV were used for depth profiling with the same analysis parameters.
Für den Abtrag Oberflächenschichten wurden zur Tiefenprofilierung bei den gleichen Analyseparametern große Sauerstoffgascluster mit im Wesentlichen 1400 Molekülen/Ion und einer Energie von 20 keV eingesetzt.
EuroPat v2

Since however the removal rate is reduced by the pulsing of the primary ion beam by several orders of magnitude, the dual-beam method is used predominantly for depth profiling.
Da jedoch die Abtraggeschwindigkeit durch die Pulsung des Primärionenstrahls um mehrere Größenordnungen reduziert ist, wird für die Tiefenprofilierung überwiegend das Zweistrahlverfahren eingesetzt.
EuroPat v2

Experimental tests relating to electromigration on insulators have shown that in particular oxygen gas cluster ions with energies of a few keV to some 10 keV are suitable for depth profiling on insulators.
Die experimentellen Untersuchungen zur Elektromigration an Isolatoren haben gezeigt, dass sich für die Tiefenprofilierung an Isolatoren besonders Sauerstoff-Gasclusterionen mit Energien von einigen keV bis zu einigen 10 keV eignen.
EuroPat v2

In summary, it can be established that, according to the invention, the removal of the sample surface for the depth profiling is effected by means of an ion beam which comprises predominantly or substantially gas clusters of oxygen molecules and/or oxygen-containing molecules.
Zusammenfassend lässt sich feststellen, dass erfindungsgemäß der Abtrag der Probenoberfläche für die Tiefenprofilierung mittels eines lonenstrahls erfolgt, der überwiegend oder im Wesentlichen Gascluster von Sauerstoffmolekülen und/oder sauerstoffhaltigen Molekülen enthält.
EuroPat v2

As a result, a depth profiling also of samples comprising insulators or insulating material is possible on alkali metals, in the case of which, on the one hand, a low detection limit is possible and, on the other hand, falsifications of the depth distribution are avoided.
Hierdurch wird eine Tiefenprofilierung auch von Isolatoren oder isolierendes Material enthaltenden Proben auf Alkalimetalle möglich, bei der zum Einen eine niedrige Nachweisgrenze möglich ist und andererseits Verfälschungen der Tiefenverteilung vermieden werden.
EuroPat v2

In addition, as part of the depth profiling, further modulation frequencies can be used for characterizing the surface or near-surface layers of the material to be examined, for example, the upper layers of the skin in the case of the skin, and thus also for the elimination of irrelevant influences of the same (for example, contaminations, absorption of irrelevant materials).
Zudem können im Sinne der Tiefenprofilierung weitere Modulationsfrequenzen genutzt werden, die zum Charakterisieren der Oberfläche oder oberflächennaher Schichten des zu untersuchenden Stoffes dienen, bspw. Der oberen Hautschichten für die Haut und damit auch zur Eliminierung nicht relevanter Einflüsse dieser (bspw. Kontamination, Verunreinigungen, Absorption nicht relevanter Stoffe).
EuroPat v2

This complete sensor has been developed for the external interfacing to CTD probe systems and can be used in towed vehicles or for fast depth profiling.
Dieser komplette Sensor wurde für die externe Adaption an CTD-Unterwassersonden entwickelt und kann sowohl Monitoringzwecke, als auch für langsames Profilieren eingesetzt werden.
ParaCrawl v7.1

When imaging and depth profiling are combined the 3-dimensional build-up of a sample can be made visible (3D-micro area analysis).
Durch die Kombination von Imaging und Tiefenprofilierung kann zudem auch der 3-dimensionale Aufbau eines Festkörpers bildgebend analysiert werden (3D-Mikrobereichsanalyse).
ParaCrawl v7.1

Confocal Raman Microscopy (CRM) allows acquiring information on the molecular composition of a sample locally resolved in three dimensions, rendering lateral- as well as depth-profiling of samples.
Konfokale Raman-Mikroskopie (CRM) ermöglicht die Bestimmung der molekularen Zusammensetzung einer Probe in drei Dimensionen und gibt damit sowohl laterale als auch Tiefenprofile der Probe wieder.
ParaCrawl v7.1

To measure deposits on the inner surface of glass vials or even to perform a depth profiling of multilayer materials, compact Raman microscopes (SENTERRA II) are used.
Um Ablagerungen auf der Innenseite von Glasgefäßen zu erfassen oder gar eine Tiefenprofilierung von mehrschichtigen Materialien vorzunehmen, werden kompakte Raman-Mikroskope (SENTERRA II) verwendet.
ParaCrawl v7.1

A chemical analysis of thin films and internal interfaces employs depth profiling using X-ray photoelectron or Auger electron spectroscopy as well as secondary ion mass spectrometry.
Für eine chemische Analyse dünner Schichten und innerer Grenzflächen werden Tiefenprofile aus Röntgenphotoelektronen- oder Augerelektronenspektroskopie sowie mittels Sekundärionenmassenspektrometrie erstellt.
ParaCrawl v7.1

The integrated Sinus Mode enables you to perform DMA analysis for depth profiling of mechanical properties (HIT, EIT vs. depth) and measurement of viscoelastic properties (E', E'': storage and loss moduli, tan ?) on samples ranging from thin films to bulk materials.
Der integrierte „Sinus-Modus“ ermöglicht das Durchführen einer DMA zur Tiefenprofilierung mechanischer Eigenschaften (HIT, EIT vs. Tiefe) und Messung der viskoelastischen Eigenschaften (E', E": Speicher- und Verlustmodul, tan ?) von Proben, die von dünnen Filmen bis hin zu Vollmaterialien reichen.
ParaCrawl v7.1