Übersetzung für "Bistable storage" in Deutsch
The
execution
switch
mechanism
can
be
implemented
in
hardware
from
coupling
elements
and
bistable
storage
elements,
for
example.
Das
Ablaufschaltwerk
kann
beispielsweise
in
Hardware
aus
Verknüpfungselementen
und
bistabilen
Speicherelementen
ausgeführt
sein.
EuroPat v2
As
a
result,
the
accumulator
is
conditioned
to
receive
data
from
the
bistable
storage
elements
of
the
processor.
Dadurch
wird
der
Akkumulator
für
die
Aufnahme
von
Daten
aus
den
bistabilen
Speicherelementen
des
Prozessors
vorbereitet.
EuroPat v2
The
transfer
output
of
the
central
register
T2
is
additionally
connected
to
the
bistable
output
storage
elements
OTL1,
OTL3
of
the
auxiliary
registers
T1,
T3.
Der
Übertrags-Ausgang
des
Zentral-Registers
T2
ist
dabei
zusätzlich
mit
den
bistabilen
Ausgangsspeicherelementen
OTL1,
OTL3
der
Hilfsregister
T1,
T3
verbunden.
EuroPat v2
The
output
of
the
bistable
output
storage
element
OTL2
of
the
central
register
T2
is
additionally
connected
to
the
input
control
blocks
ICB
of
the
auxiliary
registers
T1,
T3,
while
further
outputs
of
these
two
input
control
blocks
ICB
are
directly
connected
to
the
interrupt
request
flags
IR1,
IR3
of
the
associated
auxiliary
registers
T1,
T3
and
to
reload
and
capture
units
REL,
CAP.
Der
Ausgang
des
bistabilen
Ausgangsspeicherelementes
OTL2
des
Zentral-Registers
T2
ist
dabei
zusätzlich
an
die
Eingangskontrollblöcke
ICB
der
Hilfs-Register
T1,
T3
angeschlossen,
während
weitere
Ausgänge
dieser
beiden
Eingangskontrollblöcke
ICB
direkt
mit
den
Unterbrechungsanforderungs-Flags
IR1,
IR3
der
zugehörigen
Hilfs-Register
T1,
T3
und
mit
Reloadund
Capture-Einheiten
REL,
CAP
in
Verbindung
stehen.
EuroPat v2
The
outputs
of
the
compare
units
COM
communicate
with
the
interrupt
request
flags
IR1,
IR3
and
the
bistable
output
storage
elements
OTL1,
OTL3
of
the
two
auxiliary
registers
T1,
T3.
Die
Ausgänge
der
Compare-Einheiten
COM
stehen
mit
den
Unterbrechungsanforderungs-Flags
IR1,
IR3
und
den
bistabilen
Ausgangsspeicherelementen
OTL1,
OTL3
der
beiden
Hilfs-Register
T1,
T3
in
Verbindung.
EuroPat v2
The
timer
functions
of
the
auxiliary
registers
T1,
T3
can
be
controlled
through
the
output
of
the
bistable
output
storage
element
OTL2.
Über
den
Ausgang
des
bistabilen
Ausgangsspeicherelementes
OTL2
können
die
Zeitgeber-Funktionen
der
Hilfs-Register
T1,
T3
gesteuert
werden.
EuroPat v2
This
is
accomplished
by
switching
the
output
of
the
bistable
output
storage
element
OTL2
to
the
counting
input
of
one
of
the
auxiliary
registers
T1
or
T3,
and
the
auxiliary
registers
T1,
T3
is
operated
in
the
counter
mode.
Man
erreicht
dies
dadurch,
daß
der
Ausgang
des
bistabilen
Ausgangsspeicherelementes
OTL2
auf
den
Zähl-Eingang
eines
der
Hilfs-Register
T1
oder
T3
geschaltet
wird
und
die
Hilfs-Register
T1,
T2
im
Zählermodus
betrieben
werden.
EuroPat v2
Thus,
the
states
of
the
bistable
storage
elements
are
the
result
of
stimuli
(test
patterns)
applied
to
the
processor
logic
at
the
time
of
status
initiation
and
of
steps
provided
for
during
the
execution
of
the
instruction
to
be
tested.
Die
Zustände
der
bistabilen
Speicherelemente
sind
also
das
Ergebnis
von
Stimuli
(zugeführten
Prüfmustern),
die
der
Prozessorlogik
zum
Zeitpunkt
der
Statusinitiierung
und
von
Ausführungsvorgängen,
die
während
der
Ausführung
der
zu
prüfenden
Instruktion
vorgelegt
werden.
EuroPat v2
The
desired
values
may,
for
example,
be
correlated
with
instruction
addresses
but
they
need
not
be
stored
in
test
program
memory
29
for
each
instruction,
as
an
address
translation
mechanisms
may
be
used
if
the
states
of
the
bistable
storage
elements
are
not
data-dependent.
Diese
Sollwerte
können
beispielsweise
mit
den
Instruktionsadressen
korreliert
werden,
sie
müssen
jedoch
nicht
für
jede
Instruktion
im
Prüfprogrammspeicher
29
gespeichert
werden,
da
auch
ein
Adressenübersetzungsmechanismus
verwendet
werden
kann,
wenn
die
Zustände
der
bistabilen
Speicherelemente
Datenabhängigkeiten
nicht
aufweisen.
EuroPat v2
By
the
end
of
n
transferred
shift
pulse
pairs
SH-CL1/2,
the
states
and/or
contents
of
all
bistable
storage
elements
of
the
processor
9,
which
are
arranged
in
the
shift
register
partial
chains,
have
been
fed
to
the
signature
generator
circuit
30
where
they
are
available
as
an
accumulated
value
in
the
bistable
circuit
elements
50
or
52
for
comparison
with
a
predetermined
desired
value.
Am
Ende
von
n
übertragenen
Verschiebeimpulspaaren
SH-CLl/2
sind
die
Zustände
bzw.
Inhalte
aller
in
den
Schieberegister-Teilketten
angeordneten
bistabilen
Speicherelemente
des
Prozessorchips
9
in
die
Signatur-Erzeugerschaltung
30
übertragen
worden
und
stehen
dort
als
akkumulierter
Wert
in
den
bistabilen
Schaltelementen
50
bis
52
zum
Vergleich
mit
einem
vorher
errechne
ten
Sollwert
zur
Verfügung.
EuroPat v2
Data
processing
systems,
such
as
microprocessors,
consist
of
or
comprise
highly
complicated
chips
which
have
to
be
tested
taking
account
of
a
vast
number
of
states
bistable
storage
elements
may
assume
and
of
an
even
vaster
number
of
state
sequences
such
processor
storage
elements
pass
through
during
the
execution
of
program
routines.
Datenverarbeitungseinrichtungen,
wie
beispielsweise
Mikroprozessoren,
bestehen
aus
oder
enthalten
sehr
komplizierte
Chips,
die
in
einer
Weise
geprüft
werden
müssen,
welche
die
hohe
Anzahl
von
Zuständen
berücksichtigt,
die
die
bistabilen
Speicherelemente
einnehmen
können
und
die
auch.die
sogar
noch
größere
Anzahl
von
Zustandsfolgen
mit
einbezieht,
welche
die
genannten
Speicherelemente
eines
Prozessors
während
der
Ausführung
von
Programmroutinen
durchlaufen
haben.
EuroPat v2
Secondary
functions
generally
require
a
large
number
of
bistable
switches
or
storage
elements
which
are
associated
with
the
data
flow
and
the
control
logic
of
the
microprocessor.
Im
allgemeinen
benötigen
die
Nebenfunktionen
eine
große
Anzahl
von
bistabilen
Schaltern
oder
Speicherelementen,
die
dem
Datenfluß
und
der
Steuerlogik
des
Mikroprozessors
zugeordnet
sind.
EuroPat v2
Generally,
such
storage
elements
are
not
directly
accessible
for
test
purposes,
not
even
by
special
micro
instructions,
without
changing
the
respective
current
states
of
the
bistable
switches
or
storage
elements
used
for
state
indication.
Diese
Speicherelemente
können
im
allgemeinen
nicht
direkt
für
Testzwecke
erreicht
werden,
selbst
durch
besondere
Mikroinstruktion
nicht,
ohne
dabei
die
momentan
herrschende
Zustandssituation
der
bistabilen
Schalter
oder
Speicherelemente,
die
der
Zustandsanzeige
dienen,
zu
verändern.
EuroPat v2
As
the
storage
elements
of
a
processor
are
almost
invariably
designed
as
shift
register
stages,
the
secondary
functions
can
either
be
tested
by
an
integrated
maintenance
and
service
processor
or
by
a
connected
separate
tester
such
that
before
and
after
execution
of
the
micro
instruction
to
be
tested
the
contents
of
the
bistable
storage
elements,
connected
for
testing
in
the
form
of
shift
registers,
are
shifted
into
the
maintenance
and
service
processor
or
the
tester,
by
means
of
which
the
difference
in
states
is
compared
with
predetermined
desired
values.
Da
die
Speicherelemente
eines
Prozessors
fast
ausschließlich
als
Schieberegisterstufen
ausgebildet
sind,
kann
die
Überprüfung
der
Nebenfunktionen
entweder
von
einem
integrierten
Wartungs-
und
Bedienungsprozessor
oder
von
einem
anschließbaren
separaten
Tester
vorgenommen
werden,
indem
der
Inhalt
der
bistabilen
Speicherelemente,
die
für
die
Prüfung
zu
Schieberegistern
zusammengeschaltet
werden,
vor
und
nach
der
Ausführung
der
zu
überprüfenden
Mikroinstruktion
in
den
Wartungs-und
Bedienungsprozessor
oder
den
Tester
geschoben
werden,
der
den
Unterschied
der
Zustände
mit
vorgegebenen
Sollwerten
vergleicht.
EuroPat v2
Before
execution
of
the
instruction
to
be
tested,
the
contents
of
all
bistable
storage
elements
of
the
processor,
which
form
part
of
its
data
flow
and
control
logic,
are
circularly
shifted
in
the
shift
register
chains
to
the
signature
generator
circuit
30,
generating
a
significant
initial
value.
Bevor
jedoch
die
zu
prüfende
Instruktion
ausgeführt
wird,
wird
der
Inhalt
aller
bistabilen
Speicherelemente
des
Prozessors,
die
Teil
seines
Datenflusses
und
seiner
Steuerlogik
sind,
durch
eine
vollständige
Rundumverschiebung
in
den
genannten
Schieberegisterketten
in
die
Signatur-Erzeu
g
erschaltung
30
gebracht,
und
es
wird
ein
signifikanter
Anfangswert
erzeugt.
EuroPat v2
The
interconnection
of
the
bistable
storage
elements
in
the
form
of
a
garland-shaped
chain,
the
transfer
of
the
test
patterns
and
the
clock-controlled
transfer
of
the
test
and
result
data
are
described
in
detail
in
the
European
Patent
Application
No.
83
112
339.3.
Die
Zusammenschaltung
der
bistabilen
Speicherelemente
zu
einer
girlandenförmigen
Kette
und
die
Weitergabe
der
Prüfmuster
und
der
taktweise
Transport
der
Prüf-
und
Ergebnisdaten
ist
ausführlich
in
der
europäischen
Patentanmeldung
83
112
339.3
beschrieben.
EuroPat v2
As
in
many
cases,
the
bistable
storage
elements,
after
having
been
monitored
by
the
signature
generator
circuit
30,
have
to
be
restored
in
their
original
states
during
testing,
other
parallel
shift
paths
can
also
be
used,
such
as
those
shown
in
FIG.
Da
in
vielen
Fällen
während
der
Prüfoperation
die
Zustände
der
bistabilen
Speicherelemente
wieder
in
den
vorhergehenden
Zustand
eingestellt
werden
müssen,
nachdem
sie
von
der
Signatur-Erzeugerschaltung
30
beobachtet
wurden,
können
auch
andere
parallele
Verschiebepfade
verwendet
werden,
beispielsweise
solche,
wie
sie
in
Fig.
EuroPat v2
Upon
completion
of
circular
shifting,
the
test
pattern
accumulator
contains
significant
data
on
the
state
of
all
bistable
storage
elements
after
full
or
partial
execution
of
the
afore-mentioned
instruction.
Nach
Beendigung
der
Rundumverschiebung
enthält
der
Prüfmusterakkumulator
eine
Angabe
des
Zustandes
aller
bistabilen
Speicherelemente
nach
der
Ausführung
oder
Teilausführung,
die
für
die
zuvor
erwähnte
Instruktion
signifikant
ist.
EuroPat v2
The
signature
information,
i.e.,
the
accumulated
states
of
the
bistable
storage
elements
during
full
or
partial
execution
of
an
instruction,
say
#2,
is
then
compared
in
the
usual
manner
with
expected,
previously
computed
desired
values
which
are
read,
for
instance,
from
test
program
memory
29
along
with
the
operation
code
of
the
instruction
to
be
tested.
Die
Signaturinformation,
also
die
akkumulierten
Zustände
der
bistabilen
Speicherelemente
während
der
Ausführung
oder
Teilaus
führung
einer
Instruktion,
z.B.
#2,
wird
nun
in
üblicher
Weise
mit
erwarteten,
vorher
errechneten
Sollwerten
verglichen,
die
beispielsweise
aus
dem
Prüfprogrammspeicher
29
gleichzeitig
mit
dem
Operationscode
der
zu
prüfenden
Instruktion
ausgelesen
werden.
EuroPat v2
The
improved
error
coverage
is
essentially
attributable
to
the
circuit-controlled
diagnostic
compare
function
of
the
states
of
the
processor-internal
bistable
storage
elements
after
full
or
partial
execution
of
an
instruction.
Die
verbesserte
Fehler
abdeckung
ergibt
sich
im
wesentlichen
aus
der
schaltkreisgesteuerten
diagnostischen
Vergleichsfunktion
der
Zustände
der
prozessorinternen
bistabilen
Speicherelemente
nach
der
Ausführung
oder
Teilausführung
einer
Instruktion.
EuroPat v2
The
processing
units,
such
as
the
microprocessors,
consist
of
or
comprise
highly
complicated
chips
which
have
to
be
tested
such
that
the
large
number
of
states
bistable
storage
elements
are
capable
of
assuming
and
the
even
larger
number
of
state
sequences
these
processor
storage
elements
are
capable
of
assuming
during
the
execution
of
program
routines
are
duly
taken
into
account.
Die
Verarbeitungseinheiten,
beispielsweise
Mikroprozessoren,
bestehen
aus
oder
enthalten
sehr
komplizierte
Chips,
die
in
einer
Weise
geprüft
werden
müssen,
die
die
hohe
Anzahl
von
Zuständen
berücksichtigt,
welche
die
bistabilen
Speicherelemente
einnehmen
können
und
die
auch
die
sogar
noch
grössere
Anzahl
von
Zustandsfolgen
miteinbezieht,
welche
die
genannten
Speicherelemente
eines
Prozessors
während
der
Ausführung
von
Programmroutinen
einnehmen
können.
EuroPat v2
Difficulties
are
encountered,
however,
if
all
possible
secondary
functions
of
that
add
micro
instruction
have
to
be
tested
as
well,
such
as
whether
the
state
of
a
bistable
storage
element,
indicating
bus
requests
during
the
execution
of
such
an
add
micro
instruction,
has
changed
or
not.
Schwierigkeiten
treten
jedoch
dann
auf,
wenn
auch
alle
möglichen
Seitenfunktionen
dieser
Additions-Mikroinstruktion
getestet
werden
sollen,
wie
beispielsweise
die
Veränderung
oder
Nichtveränderung
des
Zustandes
eines
bistabilen
Speicherelementes,
das
Busanforderungen
während
der
Ausführung
einer
solchen
Additions-Mikroinstruktion
indiziert.
EuroPat v2
As
the
storage
elements
of
a
processor
consist
almost
exclusively
of
shift
register
stages,
the
secondary
functions
can
be
tested
either
by
an
integrated
maintenance
and
service
processor
or
by
a
connectable
separate
tester,
in
that,
before
or
after
execution
of
the
micro
instruction
to
be
tested,
the
centers
of
the
bistable
storage
elements,
interconnected
for
shift
register
testing,
are
shifted
into
the
maintenance
or
service
processor
or
the
tester
where
the
state
differences
are
compared
with
given
desired
values.
Da
die
Speicherelemente
eines
Prozessors
fast
ausschliesslich
aus
Schieberegisterstufen
bestehen,
kann
die
Überprüfung
der
Seitenfunktionen
entweder
von
einem
integrierten
Wartungs-
und
Bedienungsprozessor
oder
von
einem
anschliessbaren
separaten
Tester
vorgenommen
werden,
indem
der
Inhalt
der
bistabilen
Speicherelemente,
die
für
die
Prüfung
zu
Schieberegistern
zusammengeschaltet
werden,
vor
und
nach
der
Ausführung
der
zu
überprüfenden
Mikroinstruktion
in
den
Wartungs-
und
Bedienungsprozessor
oder
den
Tester
geschoben
werden,
der
den
Unterschied
der
Zustände
mit
den
vorgegebenen
Soll-Werten
vergleicht.
EuroPat v2