Übersetzung für "Rasterkraftmikroskop" in Englisch

Anton Paar bietet das erste Rasterkraftmikroskop für Anwender in der Industrie an.
Anton Paar offers the first atomic force microscope for industrial users.
ParaCrawl v7.1
Zur Abtastung des Höhenprofils einer Photomaske wird das Rasterkraftmikroskop im Scan-Modus betrieben.
To scan the height profile of a photomask, the scanning force microscope is operated in the scan mode.
EuroPat v2
Von der Schichtseite her werden sie durch das Rasterkraftmikroskop 53 abgetastet.
From the layer side, the scanning force microscope 53 scans them.
EuroPat v2
Das Mikroskop wird wie ein Rasterkraftmikroskop betrieben.
The microscope is operated like a scanning force microscope.
EuroPat v2
Andererseits musste eine neue Art von Rasterkraftmikroskop entwickelt werden.
On the other hand, a new type of atomic force microscope had to be developed.
ParaCrawl v7.1
Untersuchungen mit dem Rasterkraftmikroskop zeigten, dass die Zellhaftung kontrolliert an- und ausgeschaltet werden kann.
Investigations using an atomic force microscope showed that the cell adhesion can be turned on and off in a controlled manner.
ParaCrawl v7.1
Die erfindungsgemäße kombinierte Messspitze wurde in ein Rasterkraftmikroskop der Firma Digital (Nanoscope III) eingebaut.
The combined measurement tip according to the invention was installed into a scanning force microscope from Digital (Nanoscope III).
EuroPat v2
Die Morphologie der Pentazenschichten auf dem Hybridpolymersystem 1 wird mit einem Rasterkraftmikroskop untersucht, in Fig.
The morphology of the pentacene layers on the hybrid polymer system 1 is examined with a scanning power microscope, in FIG.
EuroPat v2
Auch ein Rasterkraftmikroskop steht in Stuttgart, das die Oberflächen mit einer feinen Nadel abtastet.
Stuttgart has a scanning electron microscope in Stuttgart, which scans surfaces with a tiny needle.
ParaCrawl v7.1
Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein leistungsfähiges System zur Charakterisierung von Polymeroberflächen im Nanometerbereich.
The atomic force microscope (AFM) is a powerful tool for characterizing polymer surfaces at the nanoscale.
ParaCrawl v7.1
Hier ist das Rasterkraftmikroskop an der Arbeit, und man sieht, dass die Landung etwas hart ist.
There's the atomic-force microscope working and you can see that the landing's a little rough.
TED2020 v1
Ich habe das Rasterkraftmikroskop im Materialforschungslabor dazu verwendet, unsere Initialen in ein Herz, das ein Tausendstel der Größe eines Sandkorns hat, zu schreiben.
I used the atomic force microscope in the material science lab and wrote our initials in a heart 1/1,000 the size of a grain of sand.
OpenSubtitles v2018
Bei den Proben wird die Oberflächenrauhigkeit Ra mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) in einem quadratischen Messbereich von 50µm Seitenlänge gemessen.
The surface roughness Ra of the specimens is measured using an atomic force microscope (AFM) in a square measurement region with a side length of 50 ?m.
EuroPat v2
Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat in einen auf dem x-y-Tisch befindlichen Trog eines Rastersondenmikroskops (SXM), das ein Rastertunnelmikroskop, ein Rasterkraftmikroskop oder ein Rasternahfeldmikroskop sein kann, eingelegt wird und der Trog mit einem gasförmigen Medium bis zu einem solchen Pegel aufgefüllt wird, daß die Oberseite des Substrats mit einer dünnen, aus mindestens einer Monolage des Mediums bestehenden Schicht bedeckt ist.
In the method according to the present invention the substrate is placed in a trough, located on the x-y table, of a scanning probe microscope (SXM), which may be a scanning tunneling microscope, a scanning force microscope or a scanning near-field microscope, and the trough is filled with a liquid and/or gaseous medium up to a level such that the top side of the substrate is covered with a thin layer made of at least one monolayer of the medium.
EuroPat v2
Die verwendeten Strukturierungstechniken sind zum Beispiel Fotolithographie, Elektronenstrahllithographie, Oberflächen-Laserstrukturierung, 3D Two-Photon Lithographie, Oberflächenbearbeitung mit dem Rasterkraftmikroskop und Strukturierung mit dem Rastertunnelmikroskop .
The structuring techniques are for example photolithography, electron beam lithography, laser surface structuring, 3D two-photon lithography, surface processing with an atomic force microscope and patterning with the scanning tunneling microscope.
ParaCrawl v7.1
Das Rasterkraftmikroskop (engl.: Atomic Force Mikroskope (AFM)) ist eines der wichtigsten Instrumente für den Bereich Nanotechnologie.
The raster force microscope (English: Atomic Force of microscopes (AFM)) one of the most important instruments for the range is nano-technology.
ParaCrawl v7.1
Der erste piezoresistive AFM-Sensor (engl. Atomic Force Microscope), den Nascatec in Zusammenarbeit mit der europäischen Weltraumbehörde ESA für das hochauflösende Rasterkraftmikroskop Midas entwickelt hat, wird im Jahr 2014 auf den Kometen 67P, Churyumow-Gerasimenko, treffen.
The first piezoresistive AFM (atomic force microscope) sensor, which Nascatec developed for the high-resolution Midas atomic force microscope in collaboration with the European Space Agency ESA, will make contact with comet 67P/Churyumov-Gerasimenko in 2014.
ParaCrawl v7.1
Sie könnten die Gruppe von Wissenschaftlern nachschlagen, die das Rasterkraftmikroskop erfunden haben (nachdem sie einen Nobelpreis für eine frühere Erfindung gewonnen hatten) und mehr über sie und ihre Arbeit herausfinden.
They could also look up the group of scientists who invented the atomic force microscope (having won a Nobel Prize for a previous invention) and find out more about them and their work.
ParaCrawl v7.1
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Ermittlung einer Dotierstoffdichte an einer Oberfläche und/oder in einem oberflächennahen Schichtbereich einer Halbleiterprobe mit einem Rasterkraftmikroskop.
The invention relates to a method for determining a dopant concentration on a surface and/or in layer region lying close to the surface of a semiconductor sample using an atomic force microscope.
EuroPat v2
Das Rasterkraftmikroskop, das in den späten 1980er Jahren entwickelt wurde, ermöglicht den Wissenschaftlern, Strukturen im Nanometerbereich zu sehen und sogar mit einzelnen Atomen mitttels Rastersondenmikroskopie zu experimentieren.
The atomic force microscope, which was developed in the late 1980s, allows scientists to view structures at a nano-metric scale and to handle even single atoms via scanning probe microscopy.
ParaCrawl v7.1
Das Ionenstrahlätzsystem LeicaEMTIC3X ermöglicht die Herstellung hochwertiger Querschnitte von hartem, weichem, porösem, wärmeempfindlichem, sprödem und heterogenem Material zur Mikrostrukturanalyse mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Rasterkraftmikroskop (AFM).
The ion beam milling system LeicaEMTIC3X is designed to provide users with high quality surface preparation of hard, soft, porous, heat-sensitive, brittle and / or heterogeneous material for microstructure analysis by means of scanning electron microscopy (SEM) and Atomic Force Microscopy (AFM).
ParaCrawl v7.1
Die WO 2000/041213 A1 beschreibt Dip-Pen Nanolithography (DPN) als lithographisches Verfahren zur Herstellung von Strukturen mit Abmessungen von 10-1000 nm durch ein Rasterkraftmikroskop, dessen Spitze mit einer Lösung (Tinte) benetzt, die durch eine treibende Kraft auf die Oberfläche eines Substrats übertragen wird.
WO 2000/041213 A1 describes the dip-pen nanolithography (DPN) technique for producing structures having dimensions of 10-1000 nm by using an atomic force microscope for which the tip is wetted with a solution (ink) that is transferred by a driving force to the surface of a substrate.
EuroPat v2