Translation of "Prüfkarte" in English

Nachfolgend wurde der pigmentierte Lack mittels eines Spiralrakels auf eine Prüfkarte aufgebracht.
The pigmented coating was then applied to a test card using a spiral applicator.
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Bei diesem Verfahren kann mit Hilfe einer sogenannten Prüfkarte (wafer prober), die mit Spitzen versehen ist, durch Aufsetzen der Spitzen auf vorbestimmte Oberflächenteile, sogenannte Pats, die Funktion der Bauelemente geprüft werden.
In these known methods, a so-called wafer prober which is provided with needles can be used to test the function of the components in that the needles are applied to predetermined parts of the surface, so-called pads.
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Zu diesem Zweck muß jedoch das vor Erfassung der Sekundärelektronen vorgesehene Spektrometer in eine entsprechende Bohrung der Prüfkarte eingesetzt werden und in dieser Bohrung auch noch in der Oberflächenebene des Bauelements verschiebbar sein.
For this purpose, however, the spectrometer provided before the capture of the secondary electrons must be introduced into an appropriate bore of the wafer prober and must also be movable in this bore in the surface plane of the component.
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Beim Rollentest werden mittels einer offenporigen Schaumrolle 40 g der zu untersuchenden Dispersionsfarbe auf einer nichtsaugenden Prüfkarte mit einer Gesamtfläche von 500 cm 2 verteilt.
In the roller test, an open-pored foam roller is used to spread 40 g of the test emulsion paint onto a nonabsorbent test card with a total area of 500 cm2.
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Figur 5 veranschaulicht, dass in einem ersten Verfahrensschritt I eine Farb- oder Lackschicht automatisch, insbesondere durch ein Rakel-, Spritz-, Walz- und/oder Schleuder-Verfahren, auf ein Substrat, beispielsweise eine Prüfkarte, aufgebracht wird.
FIG. 5 illustrates that in a first method step I a paint or lacquer layer is automatically applied to a substrate, for example a test card, in particular using a blade coating, spray coating, roller coating, and/or spin coating method.
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Im Rahmen einer weiteren Ausführungsform wird die Farb- oder Lackschicht automatisch auf ein Substrat, beispielsweise eine Prüfkarte, aufgebracht.
In another specific embodiment, the paint or lacquer layer is automatically applied to a substrate, a test card, for example.
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Zu diesem Zweck muß jedoch das zur Erfassung der Sekundärelektronen vorgesehene Spektrometer in eine entsprechende Bohrung der Prüfkarte eingesetzt werden und in dieser Bohrung auch noch in der Oberflächenebene des Bauelements verschiebbar sein.
For this purpose, however, the spectrometer provided before the capture of the secondary electrons must be introduced into an appropriate bore of the wafer prober and must also be movable in this bore in the surface plane of the component.
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In einer weiteren Ausführungsform ist vorgesehen, dass das Kernelement einen proximalen Kontaktabschnitt zur elektrischen Kontaktierung mit einer Prüfkarte aufweist.
Another embodiment provides the core element to comprise a proximal contact section for electrical contacting to a probe card.
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Aufgrund der jüngsten Entwicklung zur fortschreitenden Miniaturisierung der ICs auf den Halbleiterelementen müssen stetig dichter gepackte Anordnungen der Prüfnadeln auf der Prüfkarte realisiert werden.
Due to the latest development towards increasing miniaturization of ICs on the semi-conductor elements, ever more densely packed arrangements of probe pins on the probe card need to be implemented.
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Abbildung 2 zeigt eine Prüfkarte zur Überprüfung der Deckfähigkeit einer PVD-Standardtype mit verschiedenen Beschichtungen nach deren Austrocknung bis zum Pulver.
FIG. 2 shows a test card for determining the opacity of a PVD standard type with various coatings after the coatings are dried to powder.
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Das Kernelement der Prüfnadel muss über einen proximalen Kontaktabschnitt verfügen, der nicht von dem Mantelelement umfasst ist und elektrisch auf einer Prüfkarte kontaktierbar ist.
The core element of the probe pin needs to comprise a proximal contact section that is not encompassed by the jacket element and can be electrically contacted on a probe card.
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Das elektrisch isolierende Mantelelement 300 verhindert das Auftreten von Kurzschlüssen bei der Prüfung von Halbleiterelementen, wenn mehrere Prüfnadeln 100 auf einer Prüfkarte dicht nebeneinander angeordnet vorliegen und eine gegenseitige Berührung der Prüfnadeln auftritt.
The electrically insulating jacket element 300 prevents short-circuiting during the testing of semi-conductor elements, when multiple probe pins 100 are arranged densely adjacent to each other on a probe card and the probe pins touch each other.
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Die Erfindung bedient sich einer elektronischen Schutzschaltung zur Strombegrenzung einzelner Nadeln, die im Bereich zulässiger Ströme eine vernachlässigbare Änderung der elektrischen Eigenschaften des Messaufbaus verglichen mit einer Prüfkarte ohne derartige Schutzschaltung ergibt.
The invention uses a protective electronic circuit for current limitation of individual needles which in the area of allowable current yields a negligible change of the electrical properties of the measurement set-up compared to a probe card without this protective circuit.
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Zur Bestimmung der Farbstärke- und Farbtondifferenz dH wurden in einer Weissaufhellung jeweils 0,5 g der Farbmittelzubereitung mit 50,0 g Standard-Weissdispersion homogenisiert und auf eine Prüfkarte aufgezogen.
To determine the color strength difference and hue difference dH, in a white reduction, 0.5 g of each colorant preparation was homogenized with 50.0 g of standard white dispersion and drawn down onto a test chart.
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Zur Bestimmung der Transparenz wurden jeweils 2,5 g der Farbmittelzubereitung mit 12,5 g destilliertem Wasser und 10,0 g eines Acrylatfirnisses homogenisiert und auf eine Prüfkarte aufgezogen.
The transparency was determined by homogenizing 2.5 g of each colorant preparation with 12.5 g of distilled water and 10.0 g of an acrylate varnish and drawing down the resulting composition onto a test chart.
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An die Prüfnadeln in der Prüfkarte werden hohe Anforderungen gestellt: Sie müssen wegen der minimalen Abstände zwischen den einzelnen Pitches außerordentlich gerade sein und eine hohe elektrische Leitfähigkeit mitbringen.
The probe needles in the probe card are subject to high demands. Due to the minimal gaps between the individual pitches, they must be extremely straight and demonstrate excellent electrical conductivity.
ParaCrawl v7.1