Translation of "Testmustergenerator" in English

Im Zeitkanal K127 verbindet der Teil U3 der Umschalteeinrichtung den Ausgang des Schreib-Lese-Speichers EMU mit der Leitung DATIy, so daß eine Spiegelfunktion bezüglich eines in diesem Zeitkanal durch den Testmustergenerator TPG der Schnitstellenschaltung LIUy gesendeten Prüfworts realisiert wird.
In the time channel K127, the element U3 of the switch-over device connects the output of the write-read memory EMU to the data line DATIy, so that a mirror function with respect to a check word transmitted in this time channel by the test pattern generator TPG of the interface circuit LIUy is realized.
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Damit kann erreicht werden, dass die Schaltung mit vorgebbaren Testmustern geprüft werden kann und nicht nur mit solchen, die quasi zufällig durch den Testmustergenerator vorgeben werden.
It can thereby be achieved that the circuit can be tested with predeterminable test samples and not only with samples that are quasi accidentally predetermined by the test sample generator.
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Bei den auf dem Stande der Technik bekannten Verfahren muss dann, wenn auch Flankenübergänge überprüft werden sollen, ein sogenannter sequentieller Testmustergenerator eingesetzt werden, welcher beispielsweise in zwei Testtakten die Zustände der kombinatorischen Logik überprüft und es somit auch gestattet, Flankenübergänge zu testen.
In the method known from the prior art, a so-called sequential test sample generator must be used when also edge transitions are to be checked, which generator checks, for example, in two test clocks, the states of the combinational logic system and thus also allows testing of edge transitions.
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Ein Beispiel für ein Verfahren, das einen derartigen sequentiellen Testmustergenerator einsetzt, ist das aus der US 5,377,197 bekannte Verfahren.
An example of a method using such a sequential test sample generator is known from U.S. Pat. No. 5,377,197.
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Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Testverfahren anzugeben, welches mit einem kombinatorischen Testmustergenerator arbeiten kann, und welches darüber hinaus die Überprüfung von Flanken in der kombinatorischen Logik gestattet.
It is an object of the invention to provide a test arrangement and a test method which can operate with a combinational test sample generator and, in addition, allows checking of edges in the combinational logic system.
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Da für die beiden Testtaktzyklen nur ein Testvektor vorgesehen ist, der nacheinander zweimal die kombinatorische Logik durchläuft, und da dieser Testvektor am Ende des zweiten Testtaktzyklus auch nur einmal ausgelesen werden muss, kann ein sogenannter kombinatorischer Testmustergenerator eingesetzt werden, der relativ einfach ist.
Since only one test vector is provided for both test clock cycles, which vector consecutively runs through the combinational logic system twice, and since this test vector also needs to be read only once at the end of the second test clock cycle, a so-called combinational test sample generator may be used, which is relatively simple.
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Durch den zweimal hintereinander erfolgenden Durchlauf eines Testmusters durch die kombinatorische Logik 1 der Hardware gemäß Figur 1 und durch die Verdoppelung des Softwaremodells dieser kombinatorischen Logik in Figur 2 in Form der Softwaremodelle 11 und 16 ist ein Test möglich, bei dem ein einfacher kombinatorischer Testmustergenerator eingesetzt werden kann und bei dem dennoch ein Rückschluss auf das dynamische Verhalten insbesondere das Flankenverhalten von Schaltungselementen der kombinatorischen Logik 1 gezogen werden kann.
Due to the fact that a test sample runs through the combinational logic system 1 of the hardware of FIG. 1 twice consecutively and that the software model of this combinational logic system in FIG. 2 is doubled in the form of software models 11 and 16, a test is possible in which a simple combinational test sample generator can be used and in which nevertheless a conclusion about the dynamic behavior, particularly the edge behavior of circuit elements of the combinational logic system 1 can be made.
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Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Testverfahren anzugsben, welches mit einem kombinatorischen Testmustergenerator arbeiten kann, und welches darüber hinaus die Überprüfung von Flanken in der kombinatorischen Logik gestattet.
It is an object of the invention to provide a test arrangement and a test method which can operate with a combinational test sample generator and, in addition, allows checking of edges in the combinational logic system.
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Damit kann erreicht werden, dass die Schaltung mit vorgebbaren Testmustern geprüft werden kann und nicht nur mit solchen, die quasi zufällig durch den Testmustergenerator vorgegeben werden.
It can thereby be achieved that the circuit can be tested with predeterminable test samples and not only with samples that are quasi accidentally predetermined by the test sample generator.
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Da für die beiden Testtaktzyklen nur ein Testvektor vorgesehen ist, der nacheinander zweimal die kombinatorische Logik durchläuft, und da dieser Testvektor am Ende des zweiten Testtaktzyklus auch nur einmal ausgelesen werden muss, kann ein sogenannter kombinatorischer Testmustergenerator eingsetzt werden, der relativ einfach ist.
Since only one test vector is provided for both test clock cycles, which vector consecutively runs through the combinational logic system twice, and since this test vector also needs to be read only once at the end of the second test clock cycle, a so-called combinational test sample generator may be used, which is relatively simple.
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Durch den zweimal hintereinander erfolgenden Durchlauf eines Testmusters durch die kombinatorische Logik 1 der Hardware gemäß Figur 1 und durch die Verdoppelung des Softwaremodells dieser kombinatorischen Logik in Figur 2 in Form der Softwaremodelle 11 und 16 ist ein Test möglich, bei dem ein einfacher kombinatorischer Testmustergenerator eingesetzt werden kann und bei dem dennoch ein Rückschluss auf das dynamische Verhalten insbesondere das Flankenverhalten von Schaltungaelementen der kombinatorischen Logik 1 gezogen werden kann.
Due to the fact that a test sample runs through the combinational logic system 1 of the hardware of FIG. 1 twice consecutively and that the software model of this combinational logic system in FIG. 2 is doubled in the form of software models 11 and 16, a test is possible in which a simple combinational test sample generator can be used and in which nevertheless a conclusion about the dynamic behavior, particularly the edge behavior of circuit elements of the combinational logic system 1 can be made.
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