Übersetzung für "Scatterometry" in Deutsch

Scatterometry is an indirect optical measurement method and is used to measure periodic nanostructures at surfaces.
Die Scatterometrie ist eine indirekte optische Messung, bei nano-strukturierte Oberflächen vermessen werden.
ParaCrawl v7.1

The second application deals with the statistical inverse problem in scatterometry.
Die zweite Anwendung umfasst das statistische inverse Problem in der Scatterometrie.
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In contrast to the optical microscopy, scatterometry does not produce a true image of the target.
Im Gegensatz zur optischen Mikroskopie wird bei der Scatterometrie kein getreues Abbild des Gegenstandes erzeugt.
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GNSS signals that are reflected from the sea surface can be used for measuring the height of the sea surface and also allow conclusions to be drawn about the scattering properties of the sea surface for the purposes of scatterometry.
Von der Meeresoberfläche reflektierte GNSS-Signale können zur Messung der Höhe der Meeresoberfläche verwendet werden und lassen darüber hinaus auch Schlüsse auf die Streuungseigenschaften der Meeresoberfläche im Sinne der Scatterometrie zu.
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GFZ therefore suggests developing GPS occultation, reflectometry and scatterometry (GORS) receiver technology based on COTS, on the basis of a low flying mini-satellite constellation as a quintessential instrument for a future tsunami detection system.
Das GFZ schlägt daher vor GPS-Okkultation, Reflektometrie und Scatterometrie (GORS)-Empfängersystem auf der Grundlage der COTS GPS Empfängertechnik als Kerninstrument für ein zukünftiges Tsunami-Detektionssystem im Rahmen einer niedrig fliegenden Kleinsatellitenkonstellation zu entwickeln.
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For such measurement tasks the method of scatterometry is inappropriate because it's too slow for measuring representative sets of structures on an entire wafer.
Für solche Messaufgaben ist z.B. die Methode der Scatterometrie ungeeignet, da sie für eine repräsentative Stichprobe eines gesamten Wafers zu langsam ist.
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This benefits especially the development of novel measurement procedures based on EUV reflectometry and scatterometry for the investigation of structured surfaces.
Davon profitiert vor allem die Entwicklung neuartiger Messverfahren für die Untersuchung strukturierter Oberflächen auf der Basis von EUV-Reflektometrie und -Scatterometrie.
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Due to the short wavelength used, these procedures could in future complement or even replace optical scatterometry in structure measurements on semiconductor wafers.
Diese könnten in Zukunft, wegen der verwendeten kurzen Wellenlänge, die optische Scatterometrie bei der Vermessung von Strukturen auf Halbleiterwafern ergänzen oder gar ersetzen.
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