Übersetzung für "Interferential" in Deutsch

A maximal interference contrast in the interferential signal generation is thus ensured.
Damit ist ein maximaler Interferenzkontrast bei der interferentiellen Signalerzeugung gewährleistet.
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In each instance, the generating of the displacement-dependent position signals is based on interferential scanning principles.
Die Erzeugung der verschiebungsabhängigen Positionssignale basiert jeweils auf interferentiellen Abtastprinzipien.
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The wavelength dependency of such a grating-based, interferential position-measuring device is also of interest.
Interessant erweist sich auch die Wellenlängenabhängigkeit einer derartigen gitterbasierten, interferentiellen Positionsmesseinrichtung.
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Preferably the interference elements are designed differently within the interferential layer structure, so that they each produce different color shift effects.
Vorzugsweise sind die Interferenzelemente im Interferenzschichtaufbau unterschiedlich ausgestaltet, so dass diese jeweils unterschiedliche Farbkippeffekte erzeugen.
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The resulting phase difference therefore corresponds to the phase difference in a conventional, interferential, grating-based position-measuring device.
Die resultierende Phasendifferenz entspricht daher der Phasendifferenz in einer herkömmlichen interferentiellen, gitterbasierten Positionsmesseinrichtung.
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They are used for the interferential generation of position signals with regard to the object motion along second main axis of motion x.
Diese werden zur interferentiellen Erzeugung von Positionssignalen bezüglich der Objektbewegung entlang der zweiten Hauptbewegungsachse x genutzt.
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Similar problems also result in the case of the interferential position-measuring devices mentioned above, having physically formed measuring standards.
Ähnliche Probleme resultieren auch bei den eingangs erwähnten interferentiellen Positionsmesseinrichtungen mit körperlich ausgebildeten Maßverkörperungen.
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The latter reflect white light relatively strongly, what disturbs the desired color effect through the interferential layer structure.
Letztere reflektieren weißes Licht relativ stark, was den gewünschten Farbeindruck durch den Interferenzschichtaufbau stört.
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In such an interferential system, the reflection measuring graduation is selected to be a phase grating measuring graduation with suppressed zero-order diffraction.
In einem solchen interferentiellen System wird die Reflexions-Messteilung als Phasengitter-Messteilung mit unterdrückter nullter Beugungsordnung gewählt.
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Position-measuring devices of this type are able to operate with photoelectric scanning, e.g., according to an interferential measuring principle.
Derartige Positionsmesseinrichtungen können mit einer fotoelektrischen Abtastung, insbesondere nach einem interferentiellen Messprinzip, arbeiten.
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Interferential measurement devices are used particularly in a processing tool for measuring the relative position of a tool with respect to a workpiece to be processed.
Eine derartige interferentielle Meßeinrichtung wird insbesondere bei einer Bearbeitungsmaschine zur Messung der Relativlage eines Werkzeuges bezüglich eines zu bearbeitenden Werkstückes eingesetzt.
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It is an object of the present invention to provide an interferential measurement device for at least one direction of measurement of considerably higher measurement accuracy and simpler structure.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine interferentielle Meßeinrichtung für wenigstens eine Meßrichtung anzugeben, die bei einfachem Aufbau eine wesentlich höhere Meßgenauigkeit erlaubt.
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Such interferential three-grating transducers, which are operated in incident light, usually have their so-called neutral pivot on the plane of the scanning graduating structure.
Derartige, im Auflicht betriebene interferentielle Dreigittergeber haben nunmehr ihren sogenannten neutralen Drehpunkt üblicherweise in der Ebene der Abtastteilungsstruktur.
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In the case of a rotary position measuring system based on such an interferential operating principle in particular, it would be desirable for the neutral pivot to lie on the plane of the rotating graduation structure, or respectively graduated disk, since the graduated disk basically is subject to tilting, tumbling movements, etc. because of bearing tolerances.
Insbesondere im Fall einer rotatorischen Positionsmeßeinrichtung basierend auf einem derartigen interferentiellen Wirkungsprinzip wäre wünschenswert, daß der neutrale Drehpunkt in der Ebene der rotierenden Teilungsstruktur bzw. Teilscheibe liegt, da die Teilscheibe grundsätzlich Verkippungen, Taumelbewegungen etc. aufgrund von Lagertoleranzen unterliegt.
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It is therefore an object of the present invention to recite a rotary position measuring system in accordance with the interferential operating system which during measuring operations is as insensitive as possible to oscillations of the housing and/or tilting of a rotating graduated disk.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine rotatorische Positionsmeßeinrichtung nach dem interferentiellen Wirkungsprinzip anzugeben, die im Meßbetrieb möglichst unempfindlich gegenüber Schwingungen des Gehäuses und/oder Verkippungen einer rotierenden Teilscheibe ist.
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The above mentioned design of the interferential three-grating transducer with a reflection phase structure as the measuring graduation structure therefore must be changed in accordance with the invention in such a way, that the rotating graduated disk is provided with a transparent measuring graduation structure, while the required reflecting scanning graduation structure is arranged to be stationary.
Die oben erwähnte Ausgestaltung des interferentiellen Dreigittergebers mit einer Reflexions-Phasenstruktur als Meßteilungstruktur muß demzufolge erfindungsgemäß derart abgewandelt werden, daß die rotierende Teilscheibe mit einer transparenten Meßteilungsstruktur versehen wird, während die erforderliche reflektierende Abtastteilungsstruktur stationär angeordnet ist.
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Therefore the result is a highly accurate rotary position measuring system based on an interferential operating principle which, on the one hand, is simply and compactly built and, on the other hand, is insensitive to unavoidable mechanical effects.
Es resultiert somit eine hochgenaue rotatorische Positionsmeßeinrichtung, basierend auf einem interferentiellen Wirkungsprinzip, die zum einen einfach und kompakt baut und zum anderen unempfindlich gegenüber unvermeidbaren mechanischen Einflüssen ist.
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Moreover, in accordance with the invention, the scanning graduation structure 60 is designed as a reflecting phase structure, while conventional interferential three-grating transducers in accordance with EP 0 163 362 B2 always provide a scanning graduation structure in the form of a transmission phase structure.
Desweiteren wird erfindungsgemäß die Abtastteilungsstruktur 60 als Reflexions-Phasenstruktur ausgestaltet, während konventionelle interferentielle Dreigittergeber gemäß der EP 0 163 362 B2 immer eine Abtastteilungsstruktur in Form einer Transmissions-Phasenstruktur vorsehen.
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Furthermore, the resultant vernier fringe pattern, in principle, can also be generated by means of an interferential position measuring system, wherein the graduation structures on the graduation and the scanning side have very small graduation periods.
Zum anderen kann das resultierende Vernier-Streifenmuster prinzipiell auch mit einer interferentiellen Positionsmeßeinrichtung erzeugt werden, bei der die verwendeten Teilungsstrukturen auf Maßstab- und Abtastseite sehr kleine Teilungsperioden aufweisen.
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It should furthermore be noted as an advantage of the interferential position measuring systems in accordance with the invention, in which no separation of the different orders of diffraction is performed, that all signal portions are equally affected, if the diffraction properties should change over the length of the graduation.
Als Vorteil der erfindungsgemäßen interferentiellen Positionsmeßeinrichtungen, in denen keine Trennung der verschiedenen Beugungsordnungen erfolgt, ist weiterhin aufzuführen, daß sämtliche Signalanteile gleich beeinflußt werden, wenn sich über die Länge der Meßteilung die Beugungseigenschaften ändern sollten.
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It is moreover possible in this way to generate signals with respective phase shifts of 90° in interferential systems, which can be further processed in standard electronic evaluation devices.
Zudem können auf diese Art und Weise in interferentiellen Systemen Signale mit jeweils 90° Phasenversatz erzeugt werden, die in Standard-Auswerteelektroniken weiterverarbeitet werden können.
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According to European Patent Disclosure EP 0 513 427 A1, a brief reference pulse is generated at a long spacing distance with the aid of chirped graduations and interferential scanning.
Gemäß der EP 0 513 427 A1 wird mit Hilfe von gechirpten Teilungen und einer interferentiellen Abtastung ein kurzer Referenzimpuls in einem großen Abtastabstand erzeugt.
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German Patent DE 42 12 281 C2 discloses an interferential reference mark which, because of the use of an amplitude scanning graduation, eliminates the need to separate the resultant orders of diffraction.
In der DE 42 12 281-C2 ist eine interferentielle Referenzmarke beschrieben, die aufgrund der Verwendung einer Amplitudenabtastteilung anstelle einer Phasenteilung keine Trennung von resultierenden Beugungsordnungen mehr benötigt.
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Devices of this type are used for the interferential measurement of lengths, angles, path differences or velocities with the aid of a dual-beam interference arrangement.
Derartige Vorrichtungen dienen zur interferentiellen Messung von Längen, Winkeln, Gangunterschieden oder Geschwindigkeiten mit Hilfe einer Zweistrahlinterferenz-Anordnung.
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